【セミナー】「化学分析と半導体デバイスに関わる分析研修」のお知らせ [12/4, 12/19]

セミナー(大分県産業科学技術センター)のお知らせ


■【セミナー】「化学分析と半導体デバイスに関わる分析研修」のお知らせ [12/4, 12/19]
~化学分析と半導体プロセスに関わる分析を幅広く学びます~
(令和5年度 ものづくり技術人材リスキリング研修)
詳細 https://www.oita-ri.jp/16554/
詳細 https://www.oita-mag.jp/2408/

ものづくり技術人材リスキリング研修について
https://www.oita-ri.jp/goriyouanai/seminar/reskilling/


●概要:
 分析技術を幅広く学ぶ「分析全般コース」と対象を半導体に絞った「半導体デバイス分析コース」の2コースを開講します。
 「分析全般コース」では、デバイス周辺材料の材料物性評価、無機分析、有機分析、発生ガス分析について、分析手法、原理、装置の概要、分析事例を講義します。
 「半導体デバイス分析コース」では、パワー半導体の構造とよく使われる評価・解析技術を概説した後、各手法の詳細について分析事例を活用し、講義します。
 日頃、分析・評価に携わられている方や半導体プロセスに関わる分析に携わられている方でもそれぞれを幅広く分析全般を学ぶ機会は多くありません。担当される分析・評価の周辺の分析・評価技術について幅広く学び直すことによっては、担当する分野への理解が深まります。この機会にベテラン・中堅のリスキリングとして、また、新人研修として、ぜひご受講ください。

●内容:
 ○分析全般コース
  1.デバイス周辺材料の分析技術総論
  2.材料物性評価
  3.無機分析
  4.有機分析
  5.発生ガス分析
  6.まとめ

 ○半導体デバイス分析コース
  1.パワー半導体の構造とよく使われる評価・解析技術
  2.組成・不純物評価法(RBS/HFS, XPS, SIMS)
  3.電子顕微鏡を用いた評価法(TEM, SEM)
  4.プローブ顕微鏡を用いた評価法(AFM, SPM)
  5.光を用いた評価法(FT-IR, RAMAN, PL, CL)
  6.熱抵抗・放熱性評価(過渡熱測定)

●日時:
 分析全般コース 令和5年12月 4日(月):10時~16時
 半導体デバイス分析コース 令和5年12月19日(火):10時~16時

●開催方法:
 オンライン
 ※産科技センター内でも受講できます
 ※オンライン受講希望者が多い場合、集合受講となる場合があります。
  オンライン・集合の決定は、後日メールにてお知らせします。

●講師:
 株式会社東レリサーチセンター

●定員:
 各コース20名

●受講料:
 無料

●申込締切:
 11月30日(木)

●備考:
 1コース受講でも2コース受講でも可能です。
 ※当日は、セミナーの様子を写真撮影して広報等に使用することがあります。

●お申込方法:
 上記詳細URLの申込用紙に必要事項を記入してFAXまたはメールにてお申込みください。
 または、下記の申込みサイトにてお申し込みください。
 https://ttzk.graffer.jp/pref-oita/smart-apply/surveys-alias/handoutai2023
 
●お問合せ・お申込み先:
大分県産業科学技術センター 電子情報担当 首藤 工業化学担当 安友
 TEL:097-596-7101、FAX:097-596-7110
 E-Mail: i-chem【@】oita-ri.jp

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大分県電磁応用技術研究会 事務局(大分県産業科学技術センター内)
TEL:097-596-7101、FAX:097-596-7110、E-mail:info【@】oita-mag.jp
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